Expérience d'absorption UV-Visible insitu pendant une irradiation aux électrons

Afin de mesurer les processus transitoires de création et de relaxation des defauts dans le quartz, une expérience d'absorption in situ pendant l'irradiation a été développée. Les spectres d'absorption on été enregistrés avec un spectromètre dual-channel AVANTES entre 200 et 500 nm. Une fibre amène un faisceau de référence (slave channel) provenant de la même source de lumière et traverse l'expérience afin d'analyser les variations de l'intensité de la source au cours du temps. Nous avons voulu essayer dans ce dispositif expérimental de limiter au maximum la production de rayonnement gamma parasite. De plus, le faisceau de référence permet d'observer l'influence de l'irradiation gamma des fibres et des hublots sur le spectre d'absorption global enregistré par le master channel traversant le dispositif expérimental et l'échantillon. Le problème principal est que la sensibilité de la silice amorphe à l'excitation électronique (rayonnement g, électrons) est beaucoup plus importante que celle du quartz synthétique. Comme nous mesurons la somme des contributions sur le spectre d'absorbance enregistré sur le master channel, ce bruit expérimental (background noise dans un calcul de rapport signal sur bruit) doit être quantifié.

Figure 1: évolution de l'absorbance d'un quartz naturel enregistrée pendant une irradiation sur l'accélérateur du LSI

Figure 2 : évolution de l'absorbance à 240 nm sur le slave et le master channel en fonction du temps d'irradiation et de relaxation pour quartz naturel