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2019

R. Mohun, L. Desgranges, C. Jégou, B. Boizot, O. Cavani, A. Canizares, F. Duval, C. He, P. Desgardin, M.-F. Barthe, P. Simon, Quantification of irradiation-induced defects in UO2 using Raman and positron annihilation spectroscopies. Acta Materialia, 164  (2019) 512-519.

L. Skujas, N. Ollier, K. Kajihara, K. Smits, Creation of glass-characteristic point defects in crystalline SiO2 by 2.5 MeV electrons and by fast neutrons. Journal of Non-Crystalline Solids, 505  (2019) 252-259.