Smartlab

Diffractomètre Rigaku Smartlab (2018)
Cet équipement est dédié principalement aux mesures de films minces (polycristallins, monocristallins ou amorphes), qui peuvent être texturés ou épitaxiés, à température ambiante ou en température. Ces atouts majeurs sont :
•    Intensité de son faisceau de rayons X (anode tournante) conduisant à une statistique de comptage qui permet des acquisitions rapides avec une grande résolution
•    Grande modularité optique, qui permet ainsi l’analyse de tout type d’échantillon, même en très faibles quantités :
- Diffraction des rayons X sur poudre - pour l'identification de phase et l'analyse quantitative de mélanges
- Diffraction des rayons X à haute résolution sur couches minces pour l’analyse 1) de leur structure cristallographique, 2) leur orientation préférentielle (analyse de texture, figures de pôle dans et hors du plan)  et 3) leur qualité cristalline (rocking curve / cartographie de l’espace réciproque RSM)
- Diffraction des rayons X à incidence rasante GIXRD - pour les mesures de couches minces cristallines
- Réflectométrie aux rayons X XRR - pour la détermination de l'épaisseur des couches minces cristallines ou amorphes
•    Mesures en faisceau parallèle à haute résolution et en configuration in-plane (mesures sur des plans dont la normale n'est pas perpendiculaire à la surface analysée) permettant l'étude de la structure cristalline de matériaux épitaxiés quais parfaits, de cartographies de l’espace réciproque dans le plan et de figures de pôles.
•    Détecteur 2D haute résolution permettant l’acquisition ultra- rapide de données in situ (quelques dizaines de secondes) pour des suivis de cinétiques de changement de phases